您是否想检查零件内部，但又觉得工业CT操作太复杂了？体验蔡司最新X射线系列产品，它让工业CT检测变的更简捷。

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ZEISS METROTOM 1的CT技术便捷，用户仅需一次扫描即可有效完成复杂的测量与检测任务，从而对接触式和光学测量系统无法检测到的隐蔽的缺陷与内部结构进行测量、分析及检测。

配备的GOM Volume Inspect软件具备创新的3D体积渲染和所有剖面的3D可视化。借助GOM Volume Inspect，您可洞悉部件内部，分析几何形状、孔隙或内部结构以及装配情况。直观操作、高性能：CT数据分析从未如此简单！