如何一次扫描识别颗粒污染物?

发布时间:2021-07-23
污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后,过滤整个提取介质,并将颗粒沉积在分析滤膜上,在光学显微镜下检查滤膜,以量化颗粒污染物。

由于污染导致设备停机时间变长,并导致系统的使用寿命降低,固体颗粒污染耐受性的降低速率也在增加,这种情况不仅仅发生在汽车行业,医疗、航空航天和增材制造等领域也面临着挑战。

因此,根据VDI第19.1部分或国际标准ISO 16232 检查微粒清洁度已成为质量管理的固定组成部分。

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污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后,过滤整个提取介质,并将颗粒沉积在分析滤膜上,在光学显微镜下检查滤膜,以量化颗粒污染物。如果发现了临界水平的颗粒,通常在电子显微镜下进行分析,以确定元素组成,从而找到污染的根本原因。

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无缝集成工作流程中光学显微镜和电子显微镜的相关分析

加快技术清洁度的颗粒分析过程

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获取结果,仅需三步

1.选择您的工作流程并开始分析您的样本

2.选择合适的 VDA/ISO 标准或选择您公司的标准

3.获取全面的结果并连接ZEN数据存储用于数据管理

提高工作效率

蔡司一次扫描技术

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快速可靠的信息

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软件视图

颗粒尺寸及成分一目了然

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